111 - 112 из 112Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2002

  2. Computer simulation and X-ray diffraction analysis of defect nanostructures

    Enikeev, N. A., Aleksandrov, I. V. & Valiev, R. Z., 1 июн 2002, в: Physics of Metals and Metallography. 93, 6, стр. 515-524 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. 2000

  4. X-ray analysis and computer simulation for grain size determination in nanostructured materials

    Alexandrov, I. V. & Enikeev, N. A., 30 июн 2000, в: Materials Science and Engineering A. 286, 1, стр. 110-114 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...8 9 10 11 12 Далее

ID: 175480