• 26 всего цитирований публикаций, внесённых в Pure
  • 3 h-индекс по публикациям в Pure
20072016
Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут показаны здесь.

«Отпечаток» Узнайте самые подробные результаты анализа активности Николай Владимирович Базлов. Указанные в этом разделе метке относятся к действиям этого человека. Вместе они формируют уникальную картину его активности.

  • 60 похожих профилей - всего
Silicon Химические соединения
magnetron sputtering Физика и астрономия
DNA Технические дисциплины и материаловедение
Physical properties Химические соединения
electrical properties Физика и астрономия
Molecules Химические соединения
nuclei Физика и астрономия
detectors Физика и астрономия

Сотрудничество Подробную информацию о сотрудничестве по странам можно получить нажатием на точки.

Результаты исследований 2007 2016

  • 26 всего цитирований публикаций, внесённых в Pure
  • 3 h-индекс по публикациям в Pure
  • 7 статья
  • 1 статья в сборнике материалов конференции
  • 1 тезисы

Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering

Bazlov, N., Pilipenko, N., Vyvenko, O., Kotina, I., Petrov, Y., Mikhailovskii, V., Ubyivovk, E. & Zharinov, V., 2016, Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering. American Institute of Physics, 9 стр.

Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференции

magnetron sputtering
electrical properties
silicon
electron microscopy
traps

Study of deposited thin films containing metal hydride phase

Dobrotvorskii, M. A., Baraban, A. P., Voyt, A. P., Gabis, I. E. & Bazlov, N. V., 2014.

Результат исследований: Материалы конференцийтезисы

6 Цитирования (Scopus)

Charge-controlled fixation of DNA molecules on silicon surface and electro-physical properties of Au–DNA–Si interface

Bazlov, N. V., Vyvenko, O. F., Sokolov, P. A., Kas'Yanenko, N. A. & Petrov, Y. V., 2013, В : Applied Surface Science. 267, стр. 224-228

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Silicon
DNA
Physical properties
Molecules
Charge density

DNA Immobilization on n-Type Silicon Surface and Electrophysical Properties of Au/DNA/(n-Si) Structures

Sokolov, P. A., Bazlov, N. V., Puchkova, A. O., Vyvenko, O. F. & Kasyanenko, N. A., 2011, В : Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces. 47, 5, стр. 566–571

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

1 цитирование (Scopus)

Capacitance transient X-ray absorption spectroscopy of semiconducting structures.

Bazlov, N., Vyvenko, O., Bondarenko, A., Trushin, M., Novikov, A., Vinogradov, A., Brzhezinskaya, M. & Ovsyannikov, R., 2009, В : Superlattices and Microstructures. 45, 4-5, стр. 190-199

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья