• 432 всего цитирований публикаций, внесённых в Pure
  • 10 h-индекс по публикациям в Pure
19952019
Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут показаны здесь.

Результаты исследований 1995 2019

Фильтр
статья
2019

Angle resolved photoelectron spectroscopy as applied to X-ray mirrors: an in depth study of Mo/ Si multilayer systems

Переведенное название: Фотоэлектронная спектроскопия применительно к послойному изучению Mo/ Si многослойного рентгеновского зеркалаSakhonenkov, S., Filatova, E. O., Gaisin, A. U., Kasatikov, S. A., Konashuk, A. S., Pleshkov, R. S. & Chkhalo, N. I., 7 ноя 2019, В : Physical Chemistry Chemical Physics. 13 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Molybdenum
Photoelectron spectroscopy
Multilayers
Mirrors
photoelectron spectroscopy

Inhibition of Oxygen Scavenging by TiN at the TiN/SiO2 Interface by Atomic-Layer-Deposited Al2O3 Protective Interlayer

Переведенное название: Ограничение вымывания кислорода на границе TiN/SiO2 путем введения тонкого слоя Al2O3Filatova, E. O., Sakhonenkov, S. S., Konashuk, A. S., Kasatikov, S. A. & Afanas'ev, V. V., 15 авг 2019, В : Journal of Physical Chemistry C. 123, стр. 22335-22344

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Aluminum Oxide
Scavenging
scavenging
interlayers
Alumina
1 цитирование (Scopus)

Relationship between Ta Oxidation State and Its Local Atomic Coordination Symmetry in a Wide Range of Oxygen Nonstoichiometry Extent of TaO x

Kasatikov, S., Filatova, E., Sakhonenkov, S., Konashuk, A. & Makarova, A., 21 мар 2019, В : Journal of Physical Chemistry C. 123, 11, стр. 6849-6860

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Sputtering
Oxygen
Oxidation
oxidation
sputtering

Study of Interfaces of Mo/Be Multilayer Mirrors Using X-ray Photoelectron Spectroscopy

Kasatikov, S. A., Filatova, E. O., Sakhonenkov, S. S., Gaisin, A. U., Polkovnikov, V. N. & Smertin, R. M., 3 окт 2019, В : Journal of Physical Chemistry C.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Multilayers
Mirrors
X ray photoelectron spectroscopy
photoelectron spectroscopy
mirrors

Study of Interfaces of Mo/Be Multilayer Mirrors Using X‑ray Photoelectron Spectroscopy

Филатова, Е. О., Касатиков, С. А., Сахоненков, С. С. & Гайсин, А. У., 2019, В : Journal of Physical Chemistry C. 123, стр. 25747-25755 9 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Photoelectron spectroscopy
Multilayers
Mirrors
photoelectron spectroscopy
mirrors
2018
2 Цитирования (Scopus)

Control of TiN oxidation upon atomic layer deposition of oxides

Filatova, E. O., Sakhonenkov, S. S., Konashuk, A. S. & Afanas'Ev, V. V., 28 ноя 2018, В : Physical Chemistry Chemical Physics. 20, 44, стр. 27975-27982 8 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Atomic layer deposition
atomic layer epitaxy
Oxides
Vapors
Oxidation
2 Цитирования (Scopus)

Effect of reflection and refraction on NEXAFS spectra measured in TEY mode

Филатова, Е. О. & Соколов, А., 2018, В : Journal of Synchrotron Radiation. 25, стр. 232-240 9 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Открытый доступ
Refraction
refraction
Electrons
electrons
X ray absorption
2 Цитирования (Scopus)
1 Downloads (Pure)

Soft X-ray Reflection Spectroscopy for Nano-Scaled Layered Structure Materials

Филатова, Е. О., 24 окт 2018, В : Scientific Reports. 8, стр. 15724-9 9 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Открытый доступ
Файл
2 Цитирования (Scopus)

Thermal changes in young and mature bone nanostructure probed with Ca 2p excitations

Konashuk, A. S., Samoilenko, D. O., Klyushin, A. Y., Svirskiy, G. I., Sakhonenkov, S. S., Brykalova, X. O., Kuz'mina, M. A., Filatova, E. O., Vinogradov, A. S. & Pavlychev, A. A., 11 апр 2018, В : Biomedical Physics and Engineering Express. 4, 3, 9 стр., 035031.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Nanostructures
Hot Temperature
Bone and Bones
X-Rays
Durapatite
2017
46 Цитирования (Scopus)

Charge-transfer-induced lattice collapse in Ni-rich NCM cathode materials during delithiation

Kondrakov, A. O., Geßwein, H., Galdina, K., De Biasi, L., Meded, V., Filatova, E. O., Schumacher, G., Wenzel, W., Hartmann, P., Brezesinski, T. & Janek, J., 1 янв 2017, В : Journal of Physical Chemistry C. 121, 39

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

X ray absorption spectroscopy
Charge transfer
Cathodes
cathodes
charge transfer
2 Цитирования (Scopus)

Effect of deposition technique on chemical bonding and amount of porogen residues in organosilicate glass

Konashuk, A., Filatova, E., Sakhonenkov, S. & Afanas'ev, V., 25 июн 2017, В : Microelectronic Engineering. 178, стр. 209-212 4 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

Effect of Fe content on atomic and electronic structure of complex oxides Sr(Ti,Fe)O3 − δ

Filatova, E. O., Egorova, Y. V., Galdina, K. A., Scherb, T., Schumacher, G., Bouwmeester, H. J. M. & Baumann, S., 2017, В : Solid State Ionics. 308, стр. 27–33

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

11 Цитирования (Scopus)

Re-distribution of oxygen at the interface between γ-Al2O3 and TiN

Filatova, E. O., Konashuk, A. S., Sakhonenkov, S. S., Sokolov, A. A. & Afanas'ev, V. V., 2017, В : Scientific Reports. 7, 1, 4541.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

oxygen
electrodes
photoelectron spectroscopy
anisotropy
x rays
3 Цитирования (Scopus)

Redistribution of valence and conduction band states depending on the method of modification of SiO2 structure

Konashuk, A. S. & Filatova, E. O., 7 сен 2017, В : Physical Chemistry Chemical Physics. 19, 38, стр. 26201-26209 9 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Valence bands
Conduction bands
conduction bands
Porosity
X ray absorption near edge structure spectroscopy
2016
2 Цитирования (Scopus)

Interface properties of Si-SiO2-Ta2O5 structure by cathodoluminescence spectroscopy

Baraban, A. P., Dmitriev, V. A., Drozd, V. E., Prokofiev, V. A., Samarin, S. N. & Filatova, E. O., 2016, В : Journal of Applied Physics. 119, стр. 055307-5

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

8 Цитирования (Scopus)

Local electronic structure and nanolevel hierarchical organization of bone tissue: theory and NEXAFS study

Avrunin, A. S., Pavlychev, A. A., Vinogradov, A. S., Filatova, E. O., Doctorov, A. A., Krivosenko, Y. S., Samoilenko, D. O., Svirskiy, G. I., Konashuk, A. S. & Rostov, D. A., 2016, В : Nanotechnology. 27, 50, стр. 504002-1-8

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

6 Цитирования (Scopus)

Metallization-Induced Oxygen Deficiency of γ‑Al2O3 Layers

Filatova, E. O., Konashuk, A. S., Schaefers, F. & Afanas’ev, V. V., 2016, В : Journal of Physical Chemistry C. 120, 16, стр. 8979–8985

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

NEXAFS study of electronic and atomic structure of active layer in Al/Indium Tin Oxide/TiO2 stack during resistive switching

Filatova, E., Konashuk, A., Petrov, Y., Ubyivovk, E., Sokolov, A., Selivanov, A. & Drozd, V., 2016, В : Science and Technology of Advanced Materials. 17, 1, стр. 274-284

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

Photoluminescence of Ta2O5 Films Formed by the Molecular Layer Deposition Method

Baraban, A. P., Dmitriev, V. A., Prokof’ev, V. A., Drozd, V. E. & Filatova, E. O., 2016, В : Technical Physics Letters. 42, 4, стр. 341-343

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Морфологические характеристики наноуровневых механизмов, определяющих механические и физико-химические свойства костной ткани

Аврунин, А. С., Павлычев, А. А., Денисов-Никольский, Ю. И., Докторов, А. А., Виноградов, А. С., Филатова, Е. О., Кривосенко, Ю. А. & Шубняков, И. И., 2016, В : МОРФОЛОГИЯ. 150, 5, стр. 77-83

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Морфологические характеристики наноуровневых механизмов, определяющих прочностные и физико-химические свойства костной ткани

Аврунин, А. С., Павлычев, А. А., Денисов-Никольский, Ю. И., Докторов, А. А., Виноградов, А. С., Филатова, Е. О., Кривосенко, Ю. А. & Шубняков, И. И., 2016, В : МОРФОЛОГИЯ. 150, 5, стр. 77-83

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Фотолюминесценция пленок Ta2O5, формируемых методом молекулярного наслаивания

Барабан, А. П., Дмитриев, В. А., Прокофьев, В. А., Дрозд, В. Е. & Филатова, Е. О., 2016, В : ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ". 42, 7, стр. 10-16

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2015
4 Цитирования (Scopus)

Experimental determination of the top of the valence band in amorphous Al2O3 and γ-Al2O3

Konyushenko, M. A., Filatova, E. O., Konashuk, A. S., Nelyubov, A. V. & Shulakov, A. S., 2015, В : Technical Physics Letters. 10, стр. 922-925

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

valence
atomic layer epitaxy
energy distribution
binding energy
photoelectron spectroscopy
100 Цитирования (Scopus)

Interpretation of the Changing the Band Gap of Al2O3 Depending on Its Crystalline Form: Connection with Different Local Symmetries

Filatova, E. O. & Konashuk, A. S., 2015, В : Journal of Physical Chemistry C. 119, 35, стр. 20755-20761 7 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Crystal symmetry
Conduction bands
Energy gap
Valence bands
Crystalline materials
5 Цитирования (Scopus)

Soft X-ray absorption spectroscopy study of (Ba0.5Sr0.5) (Co0.8Fe0.2)(1-x)NbxO3-delta with different content of Nb (5%-20%)

Egorova, Y. V., Scherb, T., Schumacher, G., Bouwmeester, H. J. M. & Filatova, E. O., 2015, В : Journal of Alloys and Compounds. 650, 5 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

X ray absorption spectroscopy
Atoms
Oxidation
Absorption spectra
Substitution reactions

Soft X-ray absorption spectroscopy study of (Ba0.5Sr0.5)(Co0.8Fe0.2)1-хNbхO3- δ with different content of Nb (5%-20%)

Egorova, Y. V., Scherb, T., Schumacher, G., Bouwmeester, H. J. M. & Filatova, E. O., 2015, В : Journal of Alloys and Compounds. 650, стр. 848-852

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Экспериментальное определение положения потолка валентной зоны в a-Al2O3 и гамма-Al2O3

Конюшенко, М. А., Филатова, Е. О., Конашук, А. С., Нелюбов, А. В. & Шулаков, А. С., 2015, В : ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ". 41, 19, стр. 8-15

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2014
3 Цитирования (Scopus)

Application of soft X-ray reflectometry for analysis of underlayer influence on structure of atomic-layer deposited SrTixOy films

Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Konashuk, A. S., Schaefers, F., Popovici, M. & Afanas'Ev, V. V., 2014, В : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 196, стр. 110-116

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

Effect of thermal annealing and Al2O3-interlayer on intermixing in the TiN/SiO2/Si structure

Konyushenko, M. A., Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 2014, В : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 196, стр. 117-120

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Electrical properties of a SiC-Si multilayer structure

Bozhevol'nov, V. B., Yafyasov, A. M., Miailovskii, V. Y., Egorova, Y. V., Sokolov, A. A. & Filatova, E. O., 2014, В : Semiconductors. 6, стр. 792-795

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Silicon
laminates
Multilayers
Electric properties
electrical properties
8 Цитирования (Scopus)

Transparent-conductive-oxide (TCO) buffer layer effect on the resistive switching process in metal/TiO2/TCO/metal assemblies

Filatova, E. O., Baraban, A. P., Konashuk, A. S., Konyushenko, M. A., Selivanov, A. A., Sokolov, A. A., Schaefers, F. & Drozd, V. E., 2014, В : New Journal of Physics. 16, стр. 113014_1-15

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

assemblies
metal oxides
buffers
oxides
metals

Электрофизические свойства многослойной структуры SiC−Si

Божевольнов, В. Б., Яфясов, А. М., Миайловский, В. Ю., Егорова, Ю. В., Соколов, А. А. & Филатова, Е. О., 2014, В : ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 48, 6, стр. 814 - 817

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2013

Effect of thermal annealing and Al2O3-interlayer on intermixing in theTiN/SiO2/Si structure

Конюшенко, М. А., Конашук, А. С., Соколов, А. А., Shaefers, F. & Филатова, Е. О., 17 дек 2013, В : Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 196, стр. 117-120

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

8 Цитирования (Scopus)

Model Approach to Solving the Inverse Problem of X-Ray Reflectometry and Its Application to the Study of the Internal Structure of Hafnium Oxide Films

Volkov, Y. O., Kozhevnikov, I. V., Roshchin, B. S., Filatova, E. O. & Asadchikov, V. E., 2013, В : Crystallography Reports. 58, 1, стр. 160-167

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

5 Цитирования (Scopus)

Study of Al2O3 nanolayers synthesized onto porous SiO2 using X-ray reflection spectroscopy

Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 2013, В : Thin Solid Films. 534, стр. 363-366

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

3 Цитирования (Scopus)

X-ray and photoelectron spectroscopic nondestructive methods for thin films and interfaces study. Application to SrTiO3 based heterostuctures

Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Yegorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Schaefers, F., Gorgoi, M. & Shulakov, A. S., 2013, В : Microelectronic Engineering. 109, стр. 13-16

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

10 Цитирования (Scopus)

X-ray spectroscopic study of SrTiOx films with different interlayers

Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Egorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Gorgoi, M. & Pavlychev, A. A., 2013, В : Journal of Applied Physics. 113, 22, стр. 224301_1-8

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

МОДЕЛЬНЫЙ ПОДХОД К РЕШЕНИЮ ОБРАТНОЙ ЗАДАЧИ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ И ЕГО ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ПЛЕНОК ОКСИДА ГАФНИЯ

Волков, Ю. О., Кожевников, И. В., Рощин, Б. С., Филатова, Е. О. & Асадчиков, В. Е., 2013, В : КРИСТАЛЛОГРАФИЯ. 58, 1, стр. 146–154

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2012
22 Цитирования (Scopus)

Soft X-Ray Reflectometry, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy, and HRTEM investigations of the internal structure of TiO2(Ti)/SiO2/Si stacks

Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Ubyivovk, E. V., S. Yulin, U., Gorgoi, M. & Schaefers, F., 2012, В : Science and Technology of Advanced Materials. 13, 1, стр. 015001_1-12

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2 Цитирования (Scopus)

The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 июн 2012, В : Technical Physics Letters. 38, 6, стр. 562-564 3 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

aluminum oxides
silicon dioxide
spectroscopy
x rays
atomic layer epitaxy
2011

X-ray photoelectron spectroscopy for nondestructive analysis of buried interfaces

Filatova, E. O. & Sokolov, A. A., 2011, В : Journal of Structural Chemistry. 52, Supplement 1, стр. 82-89

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия высоких энергий как неразрушающий метод исследования скрытых межфазовых границ

Филатова, Е. О. & Соколов, А. А., 2011, В : ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 52, Приложение, стр. S85 - S93

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2010

Evolution of surface morphology at the early stage of Al2O3 film growth on a rough substrate

Filatova, E. O., Peverini, L., Ziegler, E., Kozhevnikov, I. V., Jonnard, P. & Andre, J-M., 2010, В : Journal of Physics: Condensed Matter. 22, 34, стр. 345003_1-8

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

17 Цитирования (Scopus)

Optical constants of crystalline HfO2 for energy range 140-930 eV

Filatova, E., Sokolov, A., Andre, J-M., Schaefers, F. & Braun, W., 2010, В : Applied Optics. 49, 14, 8 стр.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Spectroscopic Investigations of the Stability of Porous Silicon Structure Obtained by Etching Si(100) in Aqueous Ammonium Fluoride Solution

Filatova, E. O., Lysenkov, K. M., Sokolov, A. A., Ovchinnikov, A. A., Marchenko, D. E., Kashkarov, V. M. & Nazarikov, I. V., 2010, В : Technical Physics Letters. 36, 2, стр. 119-121

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

9 Цитирования (Scopus)

X-ray Spectroscopic Examination of Thin HfO2 Films ALD- and MOCVD-Grown on the Si(100) Surface

Sokolov, A. A., Ovchinnikov, A. A., Lysenkov, K. M., Marchenko, D. E. & Filatova, E. O., 2010, В : Technical Physics. 55, 7, стр. 1045-1050

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Исследование стабильности структуры пористого кремния, полученного травлением Si(100) в водном растворе фторида аммония, спектроскопическими методами

Филатова, Е. О., Лысенков, К. М., Соколов, А. А., Овчинников, А. А., Марченко, Д. Е., Кашкаров, В. М. & Назариков, И. В., 2010, В : ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ". 36, 3, стр. 53 - 59

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Рентгеноспектроскопическое исследование тонких пленок HfO2 синтезированных на Si (100) методами ALD и MOCVD

Соколов, А. А., Овчинников, А. А., Лысенков, К. М., Марченко, Д. Е. & Филатова, Е. О., 2010, В : ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ. 80, 7, стр. 131-136

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

2009
26 Цитирования (Scopus)

ALD synthesis of SnSe layers and nanostructures

Drozd, V. E., Nikiforova, I. O., Bogevolnov, V. B., Yafyasov, A. M., Filatova, E. O. & Papazoglou, D., 21 сен 2009, В : Journal of Physics D: Applied Physics. 42, 12, 125306.

Результат исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья

Nanostructures
petals
synthesis
coverings
Temperature