Numerical simulation of surface morphology of two-tier microsized matrix structure of SiC FEA

Максим Чумак (Докладчик), Сайфуллин, М. Ф. (Докладчик), Никифоров, К. А. (Основной докладчик)

Деятельность: выступление › выступление с устной презентацией

Описание

Устный доклад

Опубликована статья

Период	5 июл 2020 → 9 июл 2020
Название события	33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC : null
Тип мероприятия	конференция
Местонахождение	Лион, Франция
Степень признания	Международная

Результаты
Numerical simulation of surface morphology of two-tier microsized matrix structure of SiC FEA
Результат исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › рецензирование