Numerical simulation of surface morphology of two-tier microsized matrix structure of SiC FEA

Максим Чумак (Докладчик), Сайфуллин, М. Ф. (Докладчик), Никифоров, К. А. (Основной докладчик)

Деятельность: выступлениевыступление с устной презентацией

Описание

Устный доклад

Результаты

Опубликована статья
Период5 июл 20209 июл 2020
Название события33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC : null
Тип мероприятияконференция
МестонахождениеЛион, Франция
Степень признанияМеждународная