Critical Point Observation on 3D Topological Insulator Bi2Se3

Шикин, А. М. (Докладчик), Евгений Владимирович Чулков (Докладчик)

Деятельность: выступлениевыступление с устной презентацией

Период26 мая 201931 мая 2019
Название события8th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-8)
Тип мероприятияконференция
Номер конференции8
МестонахождениеBarcelona, Испания
Степень признанияМеждународная