Standard

Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers. / Шугабаев, Талгат; Харченко, Антон; Даутов, Альберт Маратович; Кузнецов, Алексей; Лендяшова, Вера Вадимовна; Крыжановская, Наталия; Резник, Родион Романович; Гридчин, Владислав Олегович; Цырлин, Георгий Эрнстович.

In: St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics, Vol. 18, No. 3.1, 12.2025, p. 278-282.

Research output: Contribution to journal › Conference article › peer-review

Harvard

Шугабаев, Т, Харченко, А, Даутов, АМ, Кузнецов, А, Лендяшова, ВВ, Крыжановская, Н, Резник, РР, Гридчин, ВО & Цырлин, ГЭ 2025, 'Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers', St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics, vol. 18, no. 3.1, pp. 278-282. https://doi.org/10.18721/JPM.183.155

APA

Шугабаев, Т., Харченко, А., Даутов, А. М., Кузнецов, А., Лендяшова, В. В., Крыжановская, Н., Резник, Р. Р., Гридчин, В. О., & Цырлин, Г. Э. (2025). Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers. St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics, 18(3.1), 278-282. https://doi.org/10.18721/JPM.183.155

Vancouver

Шугабаев Т, Харченко А, Даутов АМ, Кузнецов А, Лендяшова ВВ, Крыжановская Н et al. Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers. St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics. 2025 Dec;18(3.1):278-282. https://doi.org/10.18721/JPM.183.155

Author

Шугабаев, Талгат ; Харченко, Антон ; Даутов, Альберт Маратович ; Кузнецов, Алексей ; Лендяшова, Вера Вадимовна ; Крыжановская, Наталия ; Резник, Родион Романович ; Гридчин, Владислав Олегович ; Цырлин, Георгий Эрнстович. / Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers. In: St. Petersburg State Polytechnical University Journal: Physics and Mathematics. 2025 ; Vol. 18, No. 3.1. pp. 278-282.

BibTeX

@article{5ed02820a004429a80cc7de05af498a0,
title = "Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers",
author = "Талгат Шугабаев and Антон Харченко and Даутов, {Альберт Маратович} and Алексей Кузнецов and Лендяшова, {Вера Вадимовна} and Наталия Крыжановская and Резник, {Родион Романович} and Гридчин, {Владислав Олегович} and Цырлин, {Георгий Эрнстович}",
year = "2025",
month = dec,
doi = "10.18721/JPM.183.155",
language = "English",
volume = "18",
pages = "278--282",
journal = "НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ВЕДОМОСТИ САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ПОЛИТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ",
issn = "2304-9782",
publisher = "Издательство Санкт-Петербургского Государственного Политехнического Университета",
number = "3.1",
note = "null ; Conference date: 20-05-2025 Through 23-05-2025",
url = "https://spb.hse.ru/spbopen/",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Optical Characterization and Surface Plasmon Polariton Mode Simulation of GaN/InGaN Nanowires on Ag/AlOx Film for Plasmonic Nanolasers

AU - Шугабаев, Талгат

AU - Харченко, Антон

AU - Даутов, Альберт Маратович

AU - Кузнецов, Алексей

AU - Лендяшова, Вера Вадимовна

AU - Крыжановская, Наталия

AU - Резник, Родион Романович

AU - Гридчин, Владислав Олегович

AU - Цырлин, Георгий Эрнстович

PY - 2025/12

Y1 - 2025/12

U2 - 10.18721/JPM.183.155

DO - 10.18721/JPM.183.155

M3 - Conference article

VL - 18

SP - 278

EP - 282

JO - НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ВЕДОМОСТИ САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ПОЛИТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ

JF - НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ВЕДОМОСТИ САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ПОЛИТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ

SN - 2304-9782

IS - 3.1

Y2 - 20 May 2025 through 23 May 2025

ER -

ID: 142211083