Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis

S. K. Filatov, V. A. Frank‐Kamenetzkij

Research output

Abstract

Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden erörtert.

Original languageGerman
Pages (from-to)577-590
Number of pages14
JournalKristall und Technik
Volume2
Issue number4
DOIs
Publication statusPublished - 1 Jan 1967

Scopus subject areas

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Cite this

Filatov, S. K. ; Frank‐Kamenetzkij, V. A. / Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. In: Kristall und Technik. 1967 ; Vol. 2, No. 4. pp. 577-590.
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Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis. / Filatov, S. K.; Frank‐Kamenetzkij, V. A.

In: Kristall und Technik, Vol. 2, No. 4, 01.01.1967, p. 577-590.

Research output

TY - JOUR

T1 - Hochtemperaturdiffraktometrie von Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis

AU - Filatov, S. K.

AU - Frank‐Kamenetzkij, V. A.

PY - 1967/1/1

Y1 - 1967/1/1

N2 - Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden erörtert.

AB - Es wird eine Methode zur Hochtemperaturdiffraktometrie (bis 1300 °C) monokliner Pulvermaterialien auf ZrO2‐Basis beschrieben. Beispiele werden angeführt. Besondere Aufmerksamkeit gilt der Genauigkeit der Indizierung der Debye–Scherrer‐Aufnahmen und der Abschätzung der Fehler bei der Bestimmung der Parameter nach einer vereinfachten Methode. Die Bedingungen für die Hochtemperaturdiffraktometrie tetragonaler und kubischer Materialien auf ZrO2‐Basis werden erörtert.

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U2 - 10.1002/crat.19670020415

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M3 - статья

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JO - Crystal Research and Technology

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IS - 4

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