Экспериментальное определение толщины „мертвого слоя“

В.Е. Убыйвовк, Д. К. Логинов, И. Я. Герловин, Ю. К. Долгих, Ю. П. Ефимов, С. А. Елисеев, В. В. Петров, О. Ф. Вывенко, А. А. Ситникова, Д. А. Кириленко

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Abstract

Выполнено прямое измерение толщины «мёртвого слоя» для материала GaAs, в гетероструктуре GaAs/AlGaAs. Проведено сопоставление полученных в эксперименте значений ширины мертвого слоя с ранее полученными значениями для того же материала, граничащего с внешней средой, а также с результатами теоретических предсказаний различных авторов
Original languageRussian
Pages (from-to)1818-1823
JournalФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Volume51
Issue number9
StatePublished - 2009

Cite this