Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением геометрически неоднородных поверхностей

Д.Ю. Усачёв, А.М. Шикин, А.Ю. Варыхалов, В.К. Адамчук, О. Радер

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Abstract

Рассмотрен процесс формирования фотоэлектронных спектров с угловым разрешением при исследовании кристаллических поверхностей со сложным геометрическим рельефом. Предложена простая модель тонкой гофрированной монокристаллической пленки, иллюстрирующая основные закономерности этого процесса. Показано, что в фотоэлектронных спектрах таких поверхностей проявляются особенности, не отражающие истинную электронную структуру системы, а являющиеся результатом ее суперпозиции с геометрической структурой. Для демонстрации результатов использования модели была сформирована физическая система на основе ступенчатых поверхностей Ni (771) и Ni(755) с периодическими ступеньками. Показано, что при формировании монослойного графитового покрытия эти поверхности фасетируются, формируя геометрически неоднородный рельеф поверхности. Фотоэлектронные спектры, полученные от такой поверхности, позволяют дать количественную характеристику как электронной структуры поверхности, так и ее геометрических свойств. Для независимого определени
Original languageRussian
Pages (from-to)899-907
JournalФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Volume49
Issue number5
StatePublished - 2007

Cite this