Abstract
Разработана методика контролируемого отжига аморфных лент Ti2NiCu импульсами электрическо
го тока и получены образцы с разными долями кристаллической фазы. Методом просвечивающей
электронной микроскопии высокого разрешения изучена структура образцов. Определены условия
отжига, при которых структура становится аморфно-нанокристаллической с размером зерен менее
10 нм. Найдены режимы получения образцов с двусторонней памятью формы. Разработан и испытан прототип микроманипулятора.
Original language | Russian |
---|---|
Pages (from-to) | 1138-1142 |
Journal | ИЗВЕСТИЯ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК. СЕРИЯ ФИЗИЧЕСКАЯ |
Volume | 75 |
Issue number | 8 |
Publication status | Published - 2011 |