Расширение возможностей детализации локальной атомной структуры наносистем на основе графена и топологических изоляторов методом СЗМ

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionResearch

Abstract

Методами сканирующей зондовой микроскопии исследована атомная и электронная структура наносистем на основе графена и топологических изоляторов. Показано, что применение метода CITS одновременно с записью STM-изображения позволяет сопоставлять с атомным латеральным разрешением структуру поверхности и локальную плотность электронных состояний вблизи уровня Ферми. Благодаря этому для систем с различными химическими атомами в кристаллической решетке удаѐтся добиться «химического контраста» между атомами разного сорта, что, в свою очередь, позволяет производить расширенный структурный анализ исследуемых образцов.
Original languageRussian
Title of host publicationНанофизика и наноэлектроника
Subtitle of host publicationТруды XX Международного симпозиума. В 2 т.
Place of PublicationНижний-Новгород
PublisherИздательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского
Pages314-315
Volume1
ISBN (Print)978-5-91326-378-0
StatePublished - 2016
EventXX Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» - Нижний Новгород, Нижний Новгород, Russian Federation
Duration: 14 Mar 201618 Mar 2016

Conference

ConferenceXX Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
CountryRussian Federation
CityНижний Новгород
Period14/03/1618/03/16

Cite this