Abstract
Разработан новый метод контроля состава диэлектрических монокристаллов
на основе масс-спектрометрии тлеющего разряда. Изучено изменение
состава кристаллов вдоль направлений роста. Показана взаимосвязь
электрохимических и электрооптических свойств с распределением
основных и примесных компонентов в кристалле.
на основе масс-спектрометрии тлеющего разряда. Изучено изменение
состава кристаллов вдоль направлений роста. Показана взаимосвязь
электрохимических и электрооптических свойств с распределением
основных и примесных компонентов в кристалле.
Original language | Russian |
---|---|
Title of host publication | Сборник трудов XI Международной конференции «Фундаментальные проблемы оптики – 2019» |
Editors | С.А. Козлова |
Place of Publication | СПб. |
Publisher | НИУ ИТМО |
Pages | 355-356 |
ISBN (Electronic) | 9785757706078 |
Publication status | Published - Oct 2019 |
Event | VI Международная конференция "Фундаментальные проблемы оптики" - Санкт-Петербург Duration: 18 Oct 2010 → 22 Oct 2010 |
Conference
Conference | VI Международная конференция "Фундаментальные проблемы оптики" |
---|---|
Country | Russian Federation |
City | Санкт-Петербург |
Period | 18/10/10 → 22/10/10 |