Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.

Д. А. Акулинин, И. Р. Крылов, А. Д. Чубыкин

Research output

Abstract

Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.
Original languageRussian
Pages (from-to)185-190
JournalВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ
Issue number2
Publication statusPublished - 2014

Cite this

@article{10a8228ea66a4c029dacb972553aea07,
title = "Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.",
abstract = "Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.",
keywords = "лазерная спектроскопия, насыщение поглощения",
author = "Акулинин, {Д. А.} and Крылов, {И. Р.} and Чубыкин, {А. Д.}",
year = "2014",
language = "русский",
pages = "185--190",
journal = "ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ",
issn = "1024-8579",
publisher = "Издательство Санкт-Петербургского университета",
number = "2",

}

TY - JOUR

T1 - Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.

AU - Акулинин, Д. А.

AU - Крылов, И. Р.

AU - Чубыкин, А. Д.

PY - 2014

Y1 - 2014

N2 - Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.

AB - Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.

KW - лазерная спектроскопия

KW - насыщение поглощения

M3 - статья

SP - 185

EP - 190

JO - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

JF - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ФИЗИКА И ХИМИЯ

SN - 1024-8579

IS - 2

ER -