Коэффициенты поглощения излучения CO2-лазера в газообразном SiF4 при низком давлении.

Д. А. Акулинин, И. Р. Крылов, А. Д. Чубыкин

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

Abstract

Линии P(28)–P(40) вращательной структуры колебательного перехода 0001–0200(с центром на длине волны 9,6 мкм) генерации CO2-лазера попадают в полосу поглощения колебания ν3 молекулы SiF4. Для интерпретации слабых резонансов спектра насыщения поглощения представляет интерес зависимость амплитуды резонансов от давления газа SiF4 и мощности лазерного луча. В работе проведены измерения мощности излучения CO2-лазера, прошедшего кювету с газом SiF4, в зависимости от давления газа при стремлении мощности излучения к нулю. Диапазон изменения давлений 1–20 мТорр. Частота генерации лазера изменялась в диапазоне 40–60 МГц в пределах каждой линии усиления CO2. По результатам измерений получены значения приведённого к единичному давлению газа коэффициента поглощения SiF4 в зависимости от частоты лазерного излучения.
Original languageRussian
Pages (from-to)185-190
JournalВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ
Issue number2
StatePublished - 2014

Cite this