• Lazneva, Eleonora (PI)
  • Жижин, Евгений Владимирович (CoI)
  • Komolov, Aleksei (CoI)
  • Pshenichnyuk, Stanislav Anatolievich (CoI)
  • Герасимова, Наталия Борисовна (CoI)
  • Соболев, Виталий Сергеевич (CoI)

Layman's description

Работа в 2020 году была посвящена формированию поверхностей 2D полупроводников на основе Si и бинарных полупроводников CdS и ZnO, формированию молекулярных структур на основе малых сопряженных молекул и олигомеров на этих поверхностях и установлению структуры поверхности, атомного состава сформированных материалов. В качестве молекулярных структур исследовали тонкие и ультратонкие пленки на основе малых сопряженных молекул 4-кватерфенила (4Q), фталоцианина меди (CuPc) и тиофен-фенилен соолигомеров (ТФСО) с электронейтральными и электронакцепторными (фторосодержащими) функциональными группами на поверхности двумерных (2D) полупроводников. При формировании покрытия Ag(111) толщиной в диапазоне 25-45 Ангстрем на поверхности W(110) формируется двухдоменная пленка Ag. Такую толщину следует считать оптимальной для дальнейшего синтеза силицена. В результате исследований методом микроскопии атомных сил (AFM) установлено, что 2D слои CdS и ZnO создают сплошное покрытие на участках, размером 2 микрон x 2 микрон и более. Шероховатость поверхности составила 2 нм, размер зерен в плоскости поверхности составил от 50 нм до 200 нм. В результате AFM диагностики структуры поверхности исследованных органических пленок 4Q, CuPc и ТФСО в большинстве случаев обнаружено формирование сплошного либо почти сплошного покрытия подложки с полнотой заполнения поверхности подложки более 80%. Согласно измерениям рентгеновский фотоэлектронный спектроскопии (XPS) установлено, что атомный состав органических пленок 4Q, CuPc и ТФСО достаточно хорошо соответствует их химическим формулам. При этом в составе пленок наблюдается 15-25 % превышение относительных концентраций углерода, что целесообразно связать с адсорбцией примесей из воздуха.
Работа в 2021 году была посвящена экспериментальному установлению особенностей электронных энергетических характеристик валентной зоны и зоны вакантных состояний (зоны проводимости) при формировании пограничной области между молекулярными структурами на основе силицена, 4Q, CuPc и ТФСО с электронейтральными и электронакцепторными (фторосодержащими) функциональными группами и выбранными поверхностями 2D полупроводников, CdS и ZnO, сформированных методом ALD (молекулярного наслаивания). Для сформированной поверхности Si/Ag(111)/W(110) проведены исследования методом УФЭС (UPS с угловым разрешением, или ARPES). В области 0-5,6 эВ отчетливо видно параболическое Пи-состояние, с вершиной в точке Г при энергии связи 5,6 эВ. При исследованиях пограничного потенциального барьера установлено снижение значений работы выхода на 0.2-0.3 эВ в процессе термического осаждения пленок 4Q на поверхности CdS и ZnO, в отличие от того, что при осаждении пленки 4Q на поверхность окисленного кремния обнаружено повышение значений работы выхода 0.3 эВ. Установлены закономерности формирования потенциального барьера при осаждении пленок ТФСО: (СH3−PTTP−CH3 и СF3-PTTP-СF3) на поверхности CdS и ZnO. В ходе исследований методом СПТ энергетических характеристик зон вакантных электронных состояний установлено энергетическое положение основных максимумов незаполненных электронных состояний ультратонких пленок 4Q, CuPc и ТФСО на поверхностях CdS и ZnO, сформированных методом ALD, и окисленного кремния в энергетическом диапазоне от 5 eV до 20 eV выше EF. Максимумы пленок ТФСО, содержащие группы −CF3, сдвинуты на 1 эВ в сторону меньших энергий, по сравнению с максимумами пленок, содержащих −CH3 группы.
Работа в 2022 году была посвящена установлению электронных характеристик модельных органических полупроводниковых материалов на основе 4Q, CuPc и ТФСО расчетными методами на основе DFT в комплексе с установлением методом СПТ экспериментальных DOUS пленок 4Q, CuPc и ТФСО на поверхности послойно выращенных 2D полупроводников CdS и ZnO. В результате расчетов путем минимизации полной энергии установлена оптимизированная структура исследованных молекул и пространственное распределение HOMO, LUMO орбиталей и орбиталей, формирующих максимумы DOUS в зоне проводимости. Установлены Pi* и Sigma* характер максимумов DOUS на основе теоретически рассчитанных форм пространственного распределения орбиталей. Для пленок 4Q низкоэнергетический максимум DOUS, расположенный при энергиях от 4 эВ до 8 эВ, имеет Pi* природу, а при больших энергиях расположены преимущественно Sigma* максимумы. В случае пленок пленок ТФСО и CuPc низкоэнергетические максимумы DOUS при энергиях менее 10.5 эВ относительно EF демонстрируют Pi* природу, а при больших энергиях обнаружены Sigma* максимумы. DOUS, построенная на основе экспериментальных данных СПТ совпадает для случаев двух исследованных подложек (SiO2)n-Si и послойно выращенных 2D полупроводников CdS и ZnO. Положение экспериментальных пиков DOUS подтверждается результатами расчетов. Модификация молекул ТФСО и CuPc путем фторирования приводит к стабилизации HOMO и LUMO энергетических под-зон и сдвигу Pi* пиков DOUS на 1-2 эВ в сторону меньших энергий электронов.

Key findings for the stage (summarized)

1. Установлены воспроизводимые условия формирования двумерных (2D) полупроводников на основе Si, в том числе синтеза силицена на Ag(111) и W(110) поверхностях. Проведена диагностика структуры поверхности как в микронном масштабе, так и с атомным разрешением, диагностика атомного состава приготовленных 2D структур.
2. Установлены воспроизводимые условия формирования 2D полупроводниковых структур CdS и ZnO при использовании метода молекулярного наслаивания (atomic layer deposition, ALD). Проведена диагностика структуры поверхности, атомного состава приготовленных бинарных 2D полупроводников.
3. Установлены воспроизводимые условия формирования поверхностных молекулярных структур на основе пленок 4-кватерфенила (4Q), фталоцианина меди (CuPc) и тиофен-фенилен соолигомеров (ТФСО) на поверхностях сформированных 2D полупроводников. Проведена диагностика структуры поверхности, атомного состава.
4. Установлены электронные характеристики валентной зоны сформированных 2D полупроводников на основе Si и бинарных 2D полупроводниковых поверхностей методом ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС). При использовании (Ar+) очистки проведено стравливание адсорбированных из воздуха поверхностных слоев. Установлены изменений потенциала ионизации серии исследованных поверхностей.
5. Установлены характеристики высоты, протяженности пограничного потенциального барьера между сопряженным органическим материалом и 2D полупроводниковой подложкой путем проведения экспериментальных исследований методом спектроскопии полного тока (СПТ) сопряженных органических пленок: 4Q, CuPc и ТФСО.
6. Установлены путем проведения экспериментальных исследований методом СПТ энергетические диапазоны максимумов и границ зон вакантных электронных состояний в диапазоне от 0 эВ до 25 эВ выше уровня вакуума в выбранных видах органических материалов на поверхностях 2D полупроводников при увеличении толщины органического покрытия до 8-10 нм.
7. Для модельных структур на основе пленок 4Q, CuPc и ТФСО установлены энергетическое расположение и пространственное распределение вакантных электронных орбиталей валентной зоны и зоны проводимости, в том числе орбиталей HOMO и LUMO – уровней транспорта носителей заряда в органическом материале путем расчетов методом теории функционала плотности (DFT) на уровне B3LYP/6-31G(d). Установлен пи (пи*-) и сигма (сигма*-) характер орбиталей. В результате масштабирования результатов расчетов с использованием подхода SVOE, построены теоретические зависимости плотности вакантных электронных состояний (DOUS) в диапазоне от 0 эВ до 25 эВ выше уровня вакуума.
8. Установлены экспериментальные зависимости DOUS от энергии на основе СПТ результатов по исследованию вакантных электронных состояний. В результате сопоставления экспериментальных зависимостей DOUS и результатов, полученных в результате DFT расчетов, установлены основные особенности процессов формирования электронных состояний в пограничных структурах на основе полупроводниковых органических материалов 4Q, CuPc и ТФСО, нанесенных на поверхность 2D неорганических полупроводников.

Academic ownership of participants (text description)

Лазнева Элеонора Федоровна, вед. н.с., руководитель, – постановка задач исследования, интерпретация экспериментальных результатов, сопоставление с результатами теоретических расчетов.
Комолов Алексей Сергеевич, профессор - постановка задач исследования, интерпретация экспериментальных и теоретических результатов.
Герасимова Наталия Борисовна, инженер УТООП – участие в проведении экспериментов методом спектроскопии проходящих электронов.
Пшеничнюк Станислав Анатольевич, вед. н.с. - участие в проведении квантово-химических расчетов методами теории функционала плотности, интерпретация экспериментальных результатов.
Соболев Виталий Сергеевич, инженер-исследователь - участие в проведении экспериментов методом спектроскопии проходящих электронов.
Жижин Евгений Владимирович, инженер-исследователь - участие в проведении экспериментов методами электронной спектроскопии.

Transfer of the full copy of the report to third parties for non-commercial use: permitted/not permitted

не разрешается

Check of the report for improper borrowing in external sources (plagiarism): permitted/not permitted

не разрешается
AcronymRFBR_a_2020 - 3
StatusFinished
Effective start/end date1/04/2228/12/22

ID: 94001657